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[B-4-30]Evaluation method for conducted noise on the secondary side of a power supply circuit

〇Jiwon Lee1, Yoshihiro Akeboshi1 (1. Mitsubishi Electric Corporation)

Keywords:

Electromagnetic Interference,Electromagnetic Compatibility,Conducted Emission,Primary Side Power Port,Secondary Side Power Port,Communication Port

近年,電子機器の高機能/低電圧化が進む中で,電源回路に起因する電磁妨害(EMI)が,供試機器(EUT)のEMCに影響を及ぼす事例が増加している.とりわけ,電源回路(DC-DC)は高周波スイッチングに伴い,1次側から2次側への伝導ノイズ,ならびに2次側を介してシステム全体へ回り込むノイズが,EMC性能を悪化させる要因となる.一般に,伝導エミッションの評価は電源1次側を対象として実施される.しかしながら,機器設計の現場では,1次側の規格適合のみをもってシステム全体のEMC適合性を保証することは難しく,2次側の伝導ノイズが,EUTの放射ノイズや系内ノイズ耐性へ影響し,スペックアウトとなる事が少なくない.本研究では,従来,規制されてこなかった電源回路2次側の伝導ノイズにも着目し,EUT全体のEMC性能との関連を体系的に整理することで,実用的な設計指針および評価手法の確立を目指す.