Presentation Information
[B-4-38]Investigation of Variations in Injected Levels Caused by Bundled Cables in BCI Test Setups
◎△Io Fukuda1, Yuto Nawata1, Masahiro Yosida1, Yoshitaka Toyota1 (1. Okayama Univ.)
Keywords:
BCI Test,BCI probe,Bundled cable,parasitic capacitance,Transfer function
電子機器のノイズ耐性を評価するBCI試験において、プローブから供試体への印加量を表す伝達関数は、プローブの寄生容量や試験環境によって変動することが知られている。特に複数の電線を束ねたバンドルケーブルを用いる場合、ケーブルとシールド間の寄生容量が増加し、それによってシールドとシステムグラウンド間の寄生容量（Cext）が系全体の特性に影響を及ぼす可能性があるが、その定量的な評価は十分にされていなかった。そこで本研究では、電磁界シミュレータを用いて実在のプローブを模擬したモデルを作成し、仮想誘電体によってバンドルケーブルの状態を再現した解析を行った。得られた結果を回路シミュレータに適用して伝達関数を評価したところ、バンドルケーブルを想定した条件下では、Cextを考慮することで226MHz付近において伝達関数が最大18.6dB低下することが確認された。また、負荷インピーダンスやケーブル長などの試験環境のパラメータを変化させた場合においても、Cextの影響が顕著に現れた。これらの結果から、BCI試験における正確な印加量評価を行う上で、Cextの影響は無視できない重要な要素であることが明らかになった。