講演情報

[1A17]安全性高速スクリーニングプロトコル

*山田 淳夫1、Ko Seongjae1、大塚 裕美2、木村 伸2、山口 祥司2、増田 卓也2 (1. 東京大学、2. NIMS)

キーワード:

安全性、ARC、小型円筒型パウチセル