第65回電池討論会
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2024年11月20日 (水)
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14:20 〜 14:40
[1A17]
安全性高速スクリーニングプロトコル
*山田 淳夫
1
、Ko Seongjae
1
、大塚 裕美
2
、木村 伸
2
、山口 祥司
2
、増田 卓也
2
(1. 東京大学、2. NIMS)
キーワード：
安全性、ARC、小型円筒型パウチセル
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