講演情報

[1F26]オペランドX線CT法を用いたシリコン・Li6PS5Cl固体電解質の接触界面観察

*松本 真緒1、作花 勇也1、鐘 承超1、下田 景士1、岡崎 健一1、山重 寿夫2、小関 貴3、松井 敏明3、折笠 有基1 (1. 立命館大学、2. トヨタ自動車、3. 京都大学)

キーワード:

シリコン、X線CT、固体電解質接触界面