第65回電池討論会
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17:20 〜 17:40
[1F26]
オペランドX線CT法を用いたシリコン・Li
6
PS
5
Cl固体電解質の接触界面観察
*松本 真緒
1
、作花 勇也
1
、鐘 承超
1
、下田 景士
1
、岡崎 健一
1
、山重 寿夫
2
、小関 貴
3
、松井 敏明
3
、折笠 有基
1
(1. 立命館大学、2. トヨタ自動車、3. 京都大学)
キーワード:
シリコン、X線CT、固体電解質接触界面
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