講演情報

17:20 〜 17:40

[1F26]オペランドX線CT法を用いたシリコン・Li₆PS₅Cl固体電解質の接触界面観察

*松本真緒¹、作花勇也¹、鐘承超¹、下田景士¹、岡崎健一¹、山重寿夫²、小関貴³、松井敏明³、折笠有基¹ (1. 立命館大学、2. トヨタ自動車、3. 京都大学)

シリコン、X線CT、固体電解質接触界面