リチウムイオン電池（大型・評価）

9:20 〜 9:40

[2A02] SPM導電性マッピングによるLIB正極合材内の導電パス劣化機構解析

*常石 英雅¹、牧内 楓¹、長野 恭子¹ (1. 株式会社コベルコ科研)

キーワード：

Scanning Probe Microscopy、Scanning Spreading Resistance Microscopy、electron conductivity