講演情報

[1I20]Nafion膜を用いるハーフセルでのPt/C触媒劣化のIL-FE-SEM観察とAI解析

*横野 亮太1、松岡 美紀2、新井 保彦2、衣本 太郎2 (1. 大分大院工、2. 大分大理工)

キーワード:

触媒劣化、同一箇所観察、AI解析