第66回電池討論会
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16:40 〜 17:00
[1I20]
Nafion膜を用いるハーフセルでのPt/C触媒劣化のIL-FE-SEM観察とAI解析
*横野 亮太
1
、松岡 美紀
2
、新井 保彦
2
、衣本 太郎
2
(1. 大分大院工、2. 大分大理工)
キーワード:
触媒劣化、同一箇所観察、AI解析
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