講演情報

[3C05]コンフォーカル光学系を用いたSi系電極CP断面のOperando観察

*岡 順也1、矢口 淳子1、秋元 侑也1、坂本 太地2、池内 勇太2、向井 孝志2、富田 達也3、佐々木 義和3、西村 良浩1 (1. レーザーテック株式会社、2. ATTACCATO 合同会社、3. 日本電子株式会社)

キーワード:

オペランド観察、Si系負極、コンフォーカル光学系