セッション2

10:15 〜 10:30

[S8-1_1_06] 充電深度の異なるシリコンー硫化物固体電解質複合電極中のX線CT観察

〇阿尾 駿平¹、石川 和花¹、松本 新大¹、鐘 承超¹、下田 景士¹、岡崎 健一¹、折笠 有基¹ (1. 立命館大学)