講演情報
[AI-4-01](from HOST 2025) ML-EMFI: A Machine Learning-Driven Pre-Silicon Electromagnetic Fault Injection Security Evaluation for Robust IC Design
Sarker Pantha Protim2、Kan Tianze3、Liang Jingchen3、Tuncer Ozgur3、He Bo3、Lu Zelin3、Mallu Sudarshan3、Lin Lang3、Chang Norman3、〇長谷川 陸宇1、門田 和樹1、永田 真1、Farahmandi Farimah2、Tehranipoor Mark2 (1. 神戸大学、2. フロリダ大学、3. アンシス)
キーワード：
電磁的故障注入攻撃、機械学習