[C-12] 集積回路

16:30 〜 16:45学術奨励賞候補対象

[C-12-56] 22 nm バルクプロセスにおける動的ソフトエラー測定回路の設計

◎中岡 優作¹、万代 周平¹、松本 新大¹、中島 隆一¹、古田 潤²、小林 和淑¹ (1. 京都工芸繊維大学、2. 岡山県立大学)

キーワード：

ソフトエラー、動的ソフトエラー測定、SET、動作周波数、放射線の影響、パルス幅変動、SEU、周波数依存性