講演情報

[C-14-13]光技術を用いたテラヘルツ帯Sパラメータ計測手法の実装と評価

〇西村 航太1、岡田 直樹2、越知 真也2、杉山 武史1、久武 信太郎2 (1. 株式会社フォトニック・エッジ、2. 岐阜大学)

キーワード:

テラヘルツ波、Sパラメータ測定、周波数領域分光法、フォトニクス計測、材料・デバイス計測