2026年電子情報通信学会総合大会
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14:15 〜 14:30
[C-14-13]
光技術を用いたテラヘルツ帯Sパラメータ計測手法の実装と評価
〇西村 航太
1
、岡田 直樹
2
、越知 真也
2
、杉山 武史
1
、久武 信太郎
2
(1. 株式会社フォトニック・エッジ、2. 岐阜大学)
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キーワード:
テラヘルツ波、Sパラメータ測定、周波数領域分光法、フォトニクス計測、材料・デバイス計測
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