[G50] 疲労

12:15 〜 12:35

[282] 100keV放射光X線を用いた透過型ひずみスキャンニング法による内部ひずみ測定

^○林雄二郎¹, 玉作賢治¹, 大隅寛幸¹, 山本幸治² (1.理研, 2.コマツ)