[G] 電気・電子・光関連材料

14:55 〜 15:10

[249] GeFeO 系固溶体のサブテラヘルツスペクトル測定

*佐藤 世¹、田邉 匡生¹、阿部 世嗣² (1. 芝浦工大デザイン,2.電磁材料研究所)

キーワード：

テラヘルツ波

テラヘルツ波測定光学系を構築し、周波数可変デバイスを用いることで直接、対象サンプルの透過率及び反射率のスペクトルを測定することができた