[KS] K2.材料技術史から見るこれからの技術展開Ⅳ―分析機器・評価装

13:00 〜 13:40

[K2.5] [基調講演]SEM,TEMでの組織・組成評価技術の現状と展望

*原 徹¹ (1. 物材機構)

キーワード：

電子顕微鏡、三次元的観察、組成分析

SEMおよびTEMを用いた組織解析技術について、いくつかの実例を紹介し、最近の変化と方向性を簡潔にまとめる。それを元に、今後の金属学の進展のためにさらに必要な技術とは何か、ということを考察する。