[S8] S8.機能コアの材料科学 V（1） 多くの先進材料において、材料内部に存在する点欠陥や粒界、界面、転位等の結晶欠陥が、機能発現の起源となっている。したがって、結晶欠陥を高度に制御し、その機能を最大限に引き出すことができれば、材料研究における大きなブレークスルーとなると期待できる。また、近年のナノ計測技術や理論計算における分解能や精度の著しい進歩により、結晶欠陥の電子・原子レベル構造とそこに局所する機能に関する新規な知見が次々と得られるようになってきた。この流れを受け、結晶欠陥の特異な機能と各種外場との相互作用に着目し、令和元年から新学術領域「機能コアの材料科学」が立ち上がっている。関連するシンポジウムである本「機能コアの材料科学 V」では、機能コアに関する最新の研究成果を議論し、今後の課題と方向性について意見交換する場としたい。

13:40 〜 13:55

[S8.6] 電圧印加その場DPC STEMによるpn接合空乏層の電場応答解析

*小島 嘉文¹、遠山 慧子¹、関 岳人^1,2、幾原 雄一^1,3、柴田 直哉^1,3 (1. 東大総研機構、2. JSTさきがけ、3. JFCC)

キーワード：

走査透過電子顕微鏡法、DPC STEM、その場観察、電子デバイス

微分位相コントラスト走査透過電子顕微鏡法(DPC STEM)による動作状態のデバイス材料局所電場・電荷挙動解析手法の開発を目的として、pn接合空乏層電場応答の観察および定量解析を実際に行った。