[LC] ランチョンセミナー

12:10 〜 12:50

[Luncheon Seminer] in-situ加熱・引張試験に対応するEBSDシステムとパターンマッチングの最新情報

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

キーワード：

EBSD、in-situ EBSD測定、加熱EBSD測定、引張EBSD測定、パターンマッチング