講演情報
[P108]Cu/Nb積層材料の電気抵抗率に対する層構造の影響
○楊 文越1、白岩 隆行1 (1. 東京大学)
キーワード:
積層材料、電気抵抗率、数値シミュレーション、拡散接合
In this study, Cu/Nb laminates were fabricated to investigate the effect of diffusion bonding on the electrical resistivity. Numerical simulations were performed to calculate resistivity as a function of layer thickness, taking into account the effects of both interfaces and grain boundaries.
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