講演情報
[P-85]高透光性ジルコニアの低温劣化
*中井 啓人1、猪越 正直2,3、王 柏華1、宇尾 基弘4、金澤 学1 (1. 東京科学大学 大学院医歯学総合研究科 高齢者歯科学分野、2. 東京科学大学 大学院医歯学総合研究科 口腔デバイス・マテリアル学分野、3. 東京科学大学 口腔科学センター、4. 東京科学大学 大学院医歯学総合研究科 先端材料評価学分野)
【目的】
イットリアの含有量の多い(4-6mol%)イットリア部分安定化ジルコニア(YSZ)が,優れた透光性を有する新たな歯科用ジルコニア材料として発達してきた.しかし,イットリア含有量が6 mol%を超える超高透光性ジルコニアの物性解明は不十分である.本研究では4Y-,5Y-,6Y-PSZの低温劣化,機械的強度を調査することを目的とする.
【方法】
3種類のジルコニアを使用した:1)Zpex 4.m(4YSZ, Tosoh), 2)Zpex Smile.m(5YSZ, Tosoh), 3)ZR Lucent ULTRA(6YSZ, Shofu)．焼成後に直径14.5mm，厚み1.2mmとなるよう，切削加工にて円盤状試料を作製した後，試料表面を鏡面研磨した．ISO13356に則り，134℃，2barの条件下で低温劣化試験を段階的に実施した(1, 2, 5, 10, 15, 20, 30, 40時間；n=3/group)．X線回折装置を使用して試料両面のX線回折強度を測定し，単斜晶ジルコニアの割合(Vm)を算出した．Shapiro-Wilk検定の後，一元配置分散分析とTukey法による多重比較を用いて統計解析を行った．二軸曲げ試験は，ISO13356に従い，134℃，2barの条件で40時間低温劣化試験を行った試料を使用した(n=20/group)．二軸曲げ試験はISO6872(2015)に従い実施し，最尤法によるWeibull分析にて統計学的に解析した.
【結果と考察】
Zpex4.m, Zpex Smile.m, ZR Lucent ULTRAのVmはいずれも3 vol%未満であった．統計解析の結果，いずれの群間にも有意な差は認められなかった．二軸曲げ強さについて，Weibull分析の結果，Zpex 4.mはZpex Smile.m，ZR Lucent ULTRAよりも有意に高い二軸曲げ強さを示した．低温劣化試験前に二軸曲げ試験を実施した先行研究の結果と比較すると，低温劣化はZpex Smile.mのみ二軸曲げ強さに影響を与えたと考えられた．
イットリアの含有量の多い(4-6mol%)イットリア部分安定化ジルコニア(YSZ)が,優れた透光性を有する新たな歯科用ジルコニア材料として発達してきた.しかし,イットリア含有量が6 mol%を超える超高透光性ジルコニアの物性解明は不十分である.本研究では4Y-,5Y-,6Y-PSZの低温劣化,機械的強度を調査することを目的とする.
【方法】
3種類のジルコニアを使用した:1)Zpex 4.m(4YSZ, Tosoh), 2)Zpex Smile.m(5YSZ, Tosoh), 3)ZR Lucent ULTRA(6YSZ, Shofu)．焼成後に直径14.5mm，厚み1.2mmとなるよう，切削加工にて円盤状試料を作製した後，試料表面を鏡面研磨した．ISO13356に則り，134℃，2barの条件下で低温劣化試験を段階的に実施した(1, 2, 5, 10, 15, 20, 30, 40時間；n=3/group)．X線回折装置を使用して試料両面のX線回折強度を測定し，単斜晶ジルコニアの割合(Vm)を算出した．Shapiro-Wilk検定の後，一元配置分散分析とTukey法による多重比較を用いて統計解析を行った．二軸曲げ試験は，ISO13356に従い，134℃，2barの条件で40時間低温劣化試験を行った試料を使用した(n=20/group)．二軸曲げ試験はISO6872(2015)に従い実施し，最尤法によるWeibull分析にて統計学的に解析した.
【結果と考察】
Zpex4.m, Zpex Smile.m, ZR Lucent ULTRAのVmはいずれも3 vol%未満であった．統計解析の結果，いずれの群間にも有意な差は認められなかった．二軸曲げ強さについて，Weibull分析の結果，Zpex 4.mはZpex Smile.m，ZR Lucent ULTRAよりも有意に高い二軸曲げ強さを示した．低温劣化試験前に二軸曲げ試験を実施した先行研究の結果と比較すると，低温劣化はZpex Smile.mのみ二軸曲げ強さに影響を与えたと考えられた．