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[16a-A25-8]Ge-on-Siを用いたマイクロブリッジ上の金属薄膜堆積による効果

〇小田島 綾華1、井上 貴裕1、石川 陸1、澤野 憲太郎1 (1.東京都市大学)
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キーワード:

半導体、ゲルマニウム、マイクロブリッジ


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