講演情報

[16a-A31-5]デバイス作製プロセスによるカーボンナノチューブへの影響:ラマンスペクトルにおけるG/D比の変化

〇内山 晴貴1、武藤 大1、片浦 弘道2、大野 雄高1,3 (1.名大工、2.産総研、3.名大未来研)

キーワード:

カーボンナノチューブ、デバイス作製プロセス、ラマン分光測定

カーボンナノチューブ(CNT)薄膜トランジスタは高い移動度や機械的柔軟性を備え、フレキシブルエレクトロニクスへの応用が期待されている.最近,低欠陥(GD比>300)の半導体CNTを分離・精製する技術が確立されたが,デバイス作製プロセスでGD比の著しい低下が確認された.本研究では,デバイス作製プロセスがCNTのGD比に与える影響を報告する.

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