[16a-C43-1~11] 7.1 X線技術

11:45 〜 12:00

[16a-C43-11] X線ライトシート顕微鏡の三次元データの局在解析で達成される一桁空間分解能

〇香村 芳樹¹、ディーン シエラ¹、高野 秀和¹、石川 哲也¹ (1.理化学研究所)

キーワード：

三次元高解像度イメージング、X線ライトシート顕微鏡、三次元局在解析

X線ライトシート顕微鏡で三次元の超解像を実現するため面内の局在解析と合わせ奥行き方向の強度分布にフィッティングを行う三次元局在解析を開発し、シリカ球表面の発光微粒子の三次元分布を求めた。微粒子の位置不定性が標準偏差で2 nm (奥行き)と7 nm (面内)、シリカ球形状が半径5845nm、球面の表面粗さ90nm以下と求まった。本手法はミクロンスケール材料の表面形状測定に有用である。