[16p-B6-1~23] 12.2 評価・基礎物性

17:15 〜 17:30

[16p-B6-16] DNTT薄膜相の結晶構造解析

〇塩谷 暢貴¹、長谷川 健¹ (1.京大化研)

キーワード：

ジナフトチエノチオフェン、X線回折、結晶多形

我々の研究グループはこれまでに，X線回折の高分解測定によって，高性能半導体材料であるジナフトチエノチオフェン（DNTT）が薄膜中に固有の結晶構造（薄膜相）を有することを明らかにしている．その一方で，薄膜相は分子層間隔のみによって特徴付けられており，その結晶構造は未解明であった．本研究では，二次元微小角入射X線回折法によりDNTT薄膜相の結晶構造の解明を目指した．