[16p-B6-1~23] 12.2 評価・基礎物性

17:45 〜 18:00

[16p-B6-18] テンダーX線吸収分光による高分子電解質膜の電子状態解析

〇(PC)倉橋 直也¹、菅 大暉² (1.分子研、2.高輝度光科学研究センター)

キーワード：

高分子電解質膜、テンダーX線吸収分光法、固体高分子形燃料電池

固体高分子形燃料電池に用いられる高分子電解質膜は、スルホン酸基のような強酸基がプロトン伝導に寄与している。本研究ではスルホン酸基の電子状態と含水率の関係を明らかにするために、高分子電解質膜の雰囲気制御テンダーX線吸収分光測定による硫黄の電子状態解析を行った。