講演情報

[17a-A22-6]量子ビット応用に向けたsidewall spacer構造を有するNbN/AlN/NbNジョセフソン接合

〇本田 浩輝1、栗原 大輝1、Duong Pham1、沓間 弘樹1,2、寺井 弘高3、山下 太郎1 (1.東北大院工、2.JSTさきがけ、3.情通機構)
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キーワード:

超伝導量子ビット、sidewall spacer構造、NbN/AlN/NbNジョセフソン接合

エピタキシャル成長させたNbNジョセフソン接合を用いた量子ビットは,結晶化した絶縁層AlNにより欠陥二準位系に起因するデコヒーレンスの抑制が期待されているが,複雑な素子作製プロセスにより本来のコヒーレンス特性が抑制されている可能性が指摘されている.本研究では,sidewall spacer構造に着目し同構造を有するNbN/AlN/NbN接合の作製を試み,2.2Kにおける電流電圧特性を評価した.

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