[17a-B4-1~9] 6.6 プローブ顕微鏡

9:45 〜 10:00奨励賞エントリー

[17a-B4-4] 走査型広がり抵抗顕微鏡による全固体電池の劣化機構解析

〇蒲生 浩忠¹、佐野 光¹、清林 哲¹、城間 純¹、前田 泰¹ (1.産総研)

キーワード：

全固体電池、走査型広がり抵抗顕微鏡

全固体電池において高いエネルギー密度およびサイクル性能の要求を満たすには、充放電に伴う正極合材中の劣化挙動を理解することが重要である。本研究では、充電後の全固体電池の正極合材について、走査型広がり抵抗顕微鏡によって局所抵抗を評価し、全固体電池の劣化機構を解析した。走査型広がり抵抗顕微鏡を用いた解析は、高電位までのサイクルにより、孤立した活物質粒子が生じることを実証した。