[17p-A33-1~12] FS.1 フォーカストセッション「AIエレクトロニクス」

14:00 〜 14:15

[17p-A33-2] FeFETリザバーコンピューティングの信頼性における強誘電体分極量の影響

〇名幸 瑛心¹、トープラサートポン カシディット¹、中根 了昌¹、竹中 充¹、高木 信一¹ (1.東大工)

キーワード：

リザバーコンピューティング、FeFET

我々は強誘電体ゲートFET (FeFET)を用いたリザバーコンピューティングを提案し実験的に検証を行ってきた。FeFETは書き換え回数の増加に伴ってメモリ特性が劣化するが、リザバーコンピューティング性能は劣化しないことを確認していた。本研究ではデバイスが持つ動的特性の観点からリザバーコンピューティング性能とFeFET性能劣化の関係について検証した。