講演情報

[18a-A32-3]並列量子ドットチャネルの電流同時測定に基づく電荷ノイズの相関評価

〇松田 達也1、松岡 竜太郎1、高橋 一斗1、土屋 龍太2、峰 利之2、久本 大2、水野 弘之2、溝口 来成1、小寺 哲夫1、米田 淳1 (1.東工大、2.日立研開)
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キーワード:

シリコン量子ドット、電荷ノイズ、相互相関

シリコンスピン量子ビットはその占有面積の小ささから類似性の高いノイズが加わりやすく、ノイズ相関の理解が必須である。先行研究ではシリコンスピン量子ビットにおいて高いノイズ相関が知見として得られているものの、測定が非効率的で集積化の観点で不利である。そこで本研究では、支配的な電荷ノイズに注目し、隣接したチャネル間の2つの量子ドットの電流測定結果を解析することで、より効率的なノイズ相関の評価を行った。

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