講演情報

[18a-A32-4]二重量子ドットを流れる電流を用いた隣接シリコン量子ビット間の電荷ノイズ相関測定

〇松岡 竜太郎1、松田 達也1、高橋 一斗1、土屋 龍太2、峰 利之2、久本 大2、水野 弘之2、溝口 来成1、小寺 哲夫1、米田 淳1 (1.東工大、2.日立研開)
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キーワード:

シリコン量子ビット、電荷ノイズ、相互相関


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