講演情報

[18a-B2-5]MIC法を用いた多層InAs/GaAs量子ドットにおける歪みのその場観察

〇角田 雅弘1、權 晋寛1、荒川 泰彦1 (1.東大ナノ量子)

キーワード:

分子線エピタキシー


コメント

コメントの閲覧・投稿にはログインが必要です。ログイン