2024年第85回応用物理学会秋季学術講演会
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講演情報

10:30 〜 10:45

[18a-B4-7]SICM計測における適正バイアス電圧値の検討

〇亀井 翔天1、渡邉 信嗣2 (1.金沢大院・ナノ生命、2.金沢大・WPI-NanoLSI)

キーワード：

SICM、走査型プローブ顕微鏡

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