[18p-P02-1~30] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[18p-P02-5] KOHフラックス法(Pr_1–ySm_y)_1–xCa_xCoO₃膜の単相化に向けた合成条件の検討

〇山本 樹輝¹、舩木 修平¹、山田 容士¹、田橋 正浩²、吉田 隆³、一野 祐亮⁴ (1.島根大自然、2.中部大、3.名古屋大、4.愛工大)

キーワード：

金属-絶縁体転移、KOH

金属–絶縁体(M–I)転移特性を有する(Pr_1–yRE_y)_1–xCa_xCoO₃は、PrサイトへのRE, Ca置換量によって転移の有無や転移温度が変化することが知られている。KOHフラックス法により、出発原料のRE, Ca組成比を増加させて成膜を行ったところ、ブロードではあるがM–I転移特性が確認できた。しかしながら、異相であるCaCoPrO₄が同時に成膜されることが課題であった。合成温度を変えた成膜において、700ºCの膜では見られたCaCoPrO₄相が、600ºC以下の膜では消失した。