[20p-A32-1~11] 8.1 プラズマ生成・診断

15:15 〜 15:30

[20p-A32-7] 大気圧Ar/H₂プラズマジェットの放電停止後における残存水素原子の寿命

〇稲垣 慶修¹、山川 司¹、佐々木 浩一¹ (1.北大工)

キーワード：

水素原子、TALIF

プラズマを用いたCH₄, NH₃生成において, 水素原子は重要な役割を果たすと考えられている。このため, 反応容器の設計や反応機序の定量的な解明において, 水素原子の絶対密度を計測し, 支配的な消滅過程を明らかにすることは重要である。このような背景から, 我々は二光子吸収レーザー誘起蛍光法 (Two-photon absorption laser-induced fluorescence: TALIF)を用いて大気圧プラズマジェット直下の水素原子密度の空間分布の計測を行っていた。ところが, この実験の過程で, 我々は，放電後のチャンバー内部において, 数分という異常な長さの寿命で水素原子が残存していることを発見した。本講演では, 大気圧Ar/H₂プラズマジェットの放電停止後における水素原子密度の時間変化について報告する。