[10a-E311-1~10] 7.2 電子ビーム応用

9:30 〜 9:45奨励賞エントリー

[10a-E311-3] SACLA XFEL で使用された CeB₆ 熱電子カソードの STEM 観察および EDS 分析II

〇(M2)山本 悟史¹、石田 高史^1,2、桑原 真人^1,2、齋藤 晃^1,2、渡川 和晃³ (1.名大院工、2.名大未来研、3.理化学研究所)

キーワード：

熱電子カソード、走査透過型電子顕微鏡、エネルギー分散型X線分光法