セッション詳細
[10a-E311-1~10]7.2 電子ビーム応用
2026年9月10日(木) 9:00 〜 11:45
E311 (総合教育棟 E棟)
座長:橘田 晃宜(産総研)、 石田 高史(名大)
[10a-E311-1]4D-STEM仮想暗視野法によるSUS304加工誘起マルテンサイト分布解析
〇高橋 惇郎1、吉住 歩樹1,2、米村 光治2 (1.日鉄テクノロジー(株)、2.日本製鉄(株))
[10a-E311-3]SACLA XFEL で使用された CeB6 熱電子カソードの STEM 観察および EDS 分析II
〇(M2)山本 悟史1、石田 高史1,2、桑原 真人1,2、齋藤 晃1,2、渡川 和晃3 (1.名大院工、2.名大未来研、3.理化学研究所)
[10a-E311-4]透過電子顕微鏡カメラのMTF測定に向けたエッジ状試料の作製と評価
〇(M1)上田 颯眞1、石田 高史1,2、石田 裕一1、齋藤 晃1,2 (1.名大院工、2.名大未来研)
