セッション詳細

[10a-E311-1~10]7.2 電子ビーム応用

2026年9月10日(木) 9:00 〜 11:45
E311 (総合教育棟 E棟)

[10a-E311-1]4D-STEM仮想暗視野法によるSUS304加工誘起マルテンサイト分布解析

〇高橋 惇郎1、吉住 歩樹1,2、米村 光治2 (1.日鉄テクノロジー(株)、2.日本製鉄(株))

[10a-E311-2]TEM観察によるLaB6薄膜フォトカソードの配向性の定量評価

〇(M2)道家 荘太1、石田 高史1,2、齋藤 晃1,2 (1.名大院工、2.名大未来研)

[10a-E311-3]SACLA XFEL で使用された CeB6 熱電子カソードの STEM 観察および EDS 分析II

〇(M2)山本 悟史1、石田 高史1,2、桑原 真人1,2、齋藤 晃1,2、渡川 和晃3 (1.名大院工、2.名大未来研、3.理化学研究所)

[10a-E311-4]透過電子顕微鏡カメラのMTF測定に向けたエッジ状試料の作製と評価

〇(M1)上田 颯眞1、石田 高史1,2、石田 裕一1、齋藤 晃1,2 (1.名大院工、2.名大未来研)

[10a-E311-5]像シミュレーションによる低加速動的ホロコーンTEMの検討

〇石田 高史1、齋藤 晃1 (1.名大未来研)

[10a-E311-6]LED内蔵環境セルTEMホルダーの開発

〇竹口 雅樹1、橋本 綾子1,2 (1.NIMS、2.筑波大)

[10a-E311-7]高密度材料を被覆した電子ビームサイズ計測用試料の提案

〇(M2)山本 隼大1、早田 康成1 (1.筑波大数理)

[10a-E311-8]高繰り返しレーザーによる超高速時間分解SEMの時間分解能改善

〇(M2)三浦 研介1、土屋 遼平1、吉田 昭二1、藤田 淳一1、嵐田 雄介1 (1.筑波大数理)

[10a-E311-9]走査電子顕微鏡における気体中後方散乱電子信号のシミュレーション

〇小林 太陽1、安田 雅昭1 (1.阪公大院工)

[10a-E311-10]高エネルギーX線照射が半導体発振回路の動作に及ぼす影響

〇後藤 康仁1、木野村 淳2、高橋 俊晴2 (1.京大院工、2.京大複合研)