[10p-E308-1~18] 6.6 プローブ顕微鏡

14:45 〜 15:00

[10p-E308-6] 時間分解走査トンネル分光計測の高精度化

〇久保木 啓丞¹、出口 雄基¹、武内 修¹、嵐田 雄介¹、茂木 裕幸¹、吉田 昭二¹、重川 秀実¹ (1.筑波大院数理)

キーワード：

走査型プローブ顕微鏡、走査型トンネル分光法、時間分解測定

時間分解走査トンネル分光計測（OPVP-STS）の測定精度向上を目的とし、試料を金属（金）に変更して測定歪みの原因を調査した。その結果、同期信号のバイアス電圧への微小混入（約0.1mV）がDCバイアス変動を引き起こし、測定値に誤差をもたらしていることを特定した。完全除去には至らなかったが、理論値による補正・実験条件の統一・信号オフセットのキャンセルという高精度測定の指針を確立した。