[10p-E308-1~18] 6.6 プローブ顕微鏡

15:15 〜 15:30

[10p-E308-8] 少数学習データによるSTM自動計測：SVMを用いた分子認識とI-V測定の完全自動化

〇(M2)大西 悠翔¹、DIAO Zhuo¹、熊谷 崇²、大原 正裕¹、阿部 真之¹ (1.大阪大基、2.分子研)

キーワード：

走査型プローブ顕微鏡

走査型プローブ顕微鏡（SPM）計測において、実験の自動化はスループットと再現性の向上に不可欠である。我々は従来CNNを用いてきたが、多大な教師データが実用上の課題となっていた。本研究ではサポートベクターマシン（SVM）を導入し、少数の学習データで高精度な分子位置検出と自動計測を実現した。Si(111)-(7×7)上のフラーレン（C₆₀）を対象に検証を行い、目的のナノ構造の物性を効率的に自動計測可能とした。