[10p-E308-1~18] 6.6 Probe Microscopy

3:15 PM - 3:30 PM JST(6:15 AM - 6:30 AM UTC)

[10p-E308-8] Automated STM Measurement with Minimal Training Data: SVM-Based Molecule Recognition and Fully Automated I-V Spectroscopy

〇(M2)Yuto Onishi¹, Zhuo Diao¹, Takashi Kumagai², Masahiro Ohara¹, Masayuki Abe¹ (1.Osaka Univ., 2.Molecular Inst.)

Keywords:

Scanning Probe Microscopy

走査型プローブ顕微鏡（SPM）計測において、実験の自動化はスループットと再現性の向上に不可欠である。我々は従来CNNを用いてきたが、多大な教師データが実用上の課題となっていた。本研究ではサポートベクターマシン（SVM）を導入し、少数の学習データで高精度な分子位置検出と自動計測を実現した。Si(111)-(7×7)上のフラーレン（C₆₀）を対象に検証を行い、目的のナノ構造の物性を効率的に自動計測可能とした。