[11p-E215-1~7] 10.5 磁場応用

13:30 〜 13:45

[11p-E215-1] 変調磁場下でのin situ X線回折による Y_0.5Er_0.5Ba₂Cu₃O_y および DyBa₂Cu₃O_y の双晶分率と磁化率異方性の評価

〇木村 史子¹、足立 伸太郎¹、堀井 滋¹、土井 俊哉²、吉村 政人³、和田 昌久⁴、木村 恒久^1,4 (1.京都先端科学大、2.京大院エネ科、3.NSRRC、4.京大院農)

キーワード：

RE123、磁場配向、双晶構造

REBa₂Cu₃O_y 超伝導体における磁化率異方性に基づく磁場配向について、双晶構造の影響に着目して検討した。Y_0.5Er_0.5Ba₂Cu₃O_y (YEr123)およびDyBa₂Cu₃O_y（Dy123）の微結晶を作製し、回転変調磁場下でのin situ X線回折測定により評価した。双晶分率は{200}/{020}反射の方位角強度分布から評価され、YEr123（y ≈ 6.96）では約0.30と求められた。さらに、双晶分率と有効磁化率異方性の関係について、特にDy123に注目して議論する。