講演情報
[8a-E217-2]温度変化in-situ XANES・XRD測定によるSr2.5Bi0.5NiO5のSr/Bi配列無秩序化と電子状態変化の解明
〇夏井 健太1、河底 秀幸1、吉川 聡一1、檜垣 達也1、山添 誠司1 (1.都立大理)
キーワード：
遷移金属酸化物、局所原子配列、X線吸収微細構造解析
層状酸化物Sr2.5Bi0.5NiO5は、大気下600 °Cのアニール処理により、岩塩層のSr/Bi配列が秩序状態から無秩序状態へと変化し、電気抵抗率が100倍程度上昇するという特異な性質を示す。本研究では、その多結晶バルクを用い、大気下での室温から600 °Cにおける温度変化in-situ XANES測定およびin-situ XRD測定を実施し、昇温・降温過程における電子状態と結晶構造の変化を追跡した。