講演情報
[8a-PA2-18]ミストデポジション法によるCs3Bi2Br9膜の作製
〇(M2)吉原 大登1、池之上 卓己1、土井 俊哉1 (1.京大院エネ科)
キーワード:
Cs3Bi2Br9、ミストデポジション法
Cs3Bi2Br9は優れたX線吸収能と高比抵抗・低暗電流特性を有し、鉛を含まない次世代X線検出材料として注目されている。本研究では、低コスト・大面積成膜に適したミストデポジション法によりCs3Bi2Br9膜を作製し、基板温度やキャリアガス流量などの成膜条件を最適化した。その結果、(00l)方向に一軸配向し、粒径約2 µmの結晶粒が柱状に緻密成長した平坦なCs3Bi2Br9膜が得られた。
