講演情報

[8a-PA2-22]半導体線量計の放射線耐性評価を目的としたイオンビーム照射下での電圧電流特性評価システムの構築

〇(M1)伊藤 宙1、石原 慎太郎1、滝下 十絆1、内田 幸志1、遠山 翔1、三輪 美沙子1、加田 渉1、松山 成男1 (1.東北大量子)

キーワード:

半導体線量計、放射線耐性

粒子線がん治療場では物理線量に加えLET(Linear Energy Transfer:LET)を加味した臨床線量評価が必要であり,LETおよび総エネルギーに感度を有するワイドバンドギャップ半導体固体電離箱型線量計の実装が期待されている。長期運用に向け,東北大学1 MVタンデム加速器を用いてブラッグピークを模擬した荷電粒子照射を行い,Si pinダイオードおよびワイドバンドギャップ半導体線量計の電流電圧特性変化から放射線耐性の評価を行った。