講演情報
[8p-A13-8]転換可視蛍光収量法を用いたオペランド透過型軟X線吸収分光測定〜リチウムイオン電池構造への応用〜
〇北村 未歩1、小林 成2、一杉 太郎2、堀場 弘司1 (1.QST NanoTerasuセンター、2.東大院理)
キーワード：
軟X線吸収分光、オペランド分光、Liイオン電池
軟X線を光源とした吸収分光（XAS）における検出深度の制約を克服するため、基板による可視光蛍光（XEOL）を利用した新しいオペランド透過型XAS法（Tr-XAS by XEOL）を開発した。本手法は試料の薄片化を必要とせず、実デバイス構造のまま動作中の電子状態を観測できる。開発した手法を薄膜積層型全固体リチウムイオン電池に適用した結果、LiCoO₂正極中のCoイオンの価数変化を充放電過程において明瞭に捉え、デバイス内部の反応を直接追跡できることを実証した。