講演情報
[8p-A24-3]ジョセフソン接合配列における臨界電流のスケーリング測定
〇(M1)平出 愛1,2、小林 昌平2,3、Tyler Lindemann5、Sergei Gronin5、Geoffrey Gardner5、Michael Manfra5、樽茶 清悟2、池谷 聡4、松尾 貞茂2,3 (1.東京理科大理、2.理研、3.科学大、4.北大、5.パデュー大)
キーワード：
超伝導、ジョセフソン接合
Al薄膜とInAs量子井戸で構成されるジョセフソン接合配列デバイスを用いて、接合数・接合間隔を系統的に変化させたときの臨界電流の変化を報告する。測定するジョセフソン接合の個数は1から23まで変化させることができるようにし、電流-電圧特性を測定した。測定の結果、接合数を増やすと臨界電流が減衰することがわかった。