講演情報
[9a-PB1-5]AFMによる局所熱電評価に向けた温度勾配試料ホルダの開発
〇長谷川 滉侑1、小出 一志1、山田 啓文2、宮戸 祐治1 (1.龍谷大先端理工、2.龍谷大科技研センター)
キーワード：
原子間力顕微鏡、熱電材料、温度勾配
ナノ構造を有する熱電材料の局所熱電特性評価を目的として，AFM測定に適用可能な温度勾配印加試料ホルダを開発した。本ホルダは試料両端に加熱機構および液体窒素冷却機構の両方が備わっており，温度勾配の方向も切り替えることができる。さらに，熱電対により試料ホルダ内の4点の温度分布を測定し、試料両端の温度制御を実行した。予備評価の結果，試料両端に約50 ℃の温度差を形成できることを確認した。