講演情報
[9p-PA2-9]CaKFe₄As₄単結晶微細加工デバイスの臨界電流特性
〇井上 悠1、石田 茂之1、東 陽一1、伊豫 彰1、永崎 洋1、荻野 拓1 (1.産総研)
キーワード：
鉄系超伝導体、臨界電流
本研究では、単結晶の剥離・微細加工により鉄系超伝導体CaKFe4As4の素子を作製し、臨界電流特性を直接評価した。自己磁場下の臨界電流をパルス電流測定で評価したところ、Tc近傍において106～107 A/cm2級の臨界電流密度を観測した。本成果は、今後の低温域での臨界電流測定や磁場中評価を通じて、その物理的起源を解明するための足がかりとなる。