アステラテック（株）

■ファインガラスカッター・アルタイル ■アルタイルオプション品 ■シート抵抗測定用4深針ケーブル ■セルホルダー

ANVOS Analytics（株）

■SFG（和周波分光）受託測定・装置販売・共同研究 『非線形SFG分光を用い、半導体・薄膜界面の分子構造と結合状態を可視化・定量解析します。成膜や表面改質に伴う界面変化を高感度に評価し、大学・企業との共同研究や受託解析を通じてプロセス理解と界面設計を支援します。』

（株）池田理化

■卓上型走査電子顕微鏡　JCM-7000 NeoScope

イノベーションサイエンス（株）

■Henniker Plasma：表面改質装置、プラズマクリーニング ■HIDEN ANALYTICAL社：大気圧プラズマ分析装置モデルHPR-60、プラズマイオンエネルギーアナライザー付質量分析計モデルEQP、ラングミュアプローブモデルESPion、残留ガス四重極質量分析計QMS他

ウインテスト（株）

■WTS-CT130 X線検査装置 ■RYUGU 液体レンズ

オックスフォード・インストゥルメンツ（株）

■高感度CCD, sCMOSカメラ, 分光器 ■原子間力顕微鏡 SPM/AFM ■共焦点ラマン顕微鏡 ■ナノインデンター

（株）Qception

■膜型表面応力センサ（MSS）

ケーエルエー・テンコール（株）

■非接触光学式膜厚測定システム / 触針式プロファイラ(段差計)

サイエンスエッジ（株）

■サーモリフレクタンス顕微鏡 InFocus κ FDTR ■レーザーフォーカルプロファイラ

国仪量子技术（合肥）股份有限公司

TBD

（株）島津製作所

■走査型プローブ顕微鏡SPM-9700HT Plus ■走査型プローブ顕微鏡SPM-Nanoa ■高分解能 走査型プローブ顕微鏡　SPM-8100FM ■電子線マイクロアナライザ　EPMA-8050G ■エネルギー分散型蛍光X線分析装置　EDX-7200 ■イメージングX線光電子分析装置　KRATOS ULTRA2 ■走査電子顕微鏡　SS-4000

ジャパンハイテック（株）

■顕微鏡用プローブ付大型試料冷却加熱ステージ ■顕微鏡用加熱ステージ ■顕微鏡用冷却加熱ステージ ■顕微鏡用真空冷却加熱ステージ ■顕微鏡用ペルチェ式冷却加熱ステージ

スペクトリス（株） マルバーン・パナリティカル

TBD

（株）東京インスツルメンツ

■XPS ■仕事関数測定装置 ■その他表面分析装置

東芝ナノアナリシス（株）

■受託分析サービスの紹介

東朋テクノロジー（株）

■半導体/FPD向け各種検査 / 分析装置をご紹介いたします。 膜厚 / 応力 / キャリア濃度/ ECV / ホール効果/ 全面ムラ・欠陥検査 / 全面膜厚測定 / 3D形状測定 / 触針式段差測定機など ■各種デモ / 受託測定を承ります。

（株）東レリサーチセンター

（株）トヤマ

■Ionoptika Ltd. GCIB10S ■成膜装置 ■各種真空コンポーネント

（株）NanoAndMoreジャパン

■全AFMメーカー対応カンチレバー■コロイドプローブ■高速スキャンカンチレバー■オリンパス製カンチレバー■防音ボックス■アクティブ除振台■表面応力センサチップ（MSS）

日本セミラボ（株）

TBD

日本分光（株）

■FT/IR-4X フーリエ変換赤外分光光度計 ■PR-1w パームトップラマン分光光度計

パーク・システムズ・ジャパン（株）

■自動化原子間力顕微鏡　FX40

ブルカージャパン（株）

■X線回折装置 ■産業用X線装置 ■AFM（原子間力顕微鏡） ■ナノ赤外分光分析装置 ■ナノインデンター など

（株）ユニソク

■走査型プローブ顕微鏡と関連製品

（株）リガク

TBD

理研計器（株）

TBD

レニショー（株）

■【inVia】共焦点ラマン顕微鏡