講演情報

[221T]軟X線と中性子による高分子/フィラー界面評価

*山田 悟史1,2、宇津木 茂樹2、根本 文也3、羽合 孝文4、雨宮 健太1 (1. KEK IMSS, 2. J-PARCセンター, 3. 防衛大学校, 4. 総合科学研究機構)