構造・物性・評価

9:50 〜 10:10

[F-102] 走査プローブ顕微鏡を用いたナノスクラッチ試験による高分子フィルム表面の物性評価

*撹上 将規¹、長谷川 成美¹、髙澤 彩香¹、山延 健¹、上原 宏樹¹ (1. 群馬大学)

キーワード：

ナノスクラッチ試験、走査プローブ顕微鏡、フィルム表面、ナノトライボロジー

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