[S21] 特セⅠ「高機能化を実現する射出成形の計測と制御」

9:40 〜 10:00

[B-203] 光ファイバ計測法による成形条件の型温度・ひずみへの影響検討

(富士テクニカルリサーチ) ○渡邊惇, 高橋久範, 名取孝, (埼玉工大) 高原忠良