プラスチック成形加工学会第34回秋季大会
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[1P016]
サイドゲート成形品におけるゲートカット跡残り現象の分子配向・流動履歴解析
*上羽 文人
1
、沖野 隼之介
2
、小西 昴
2
(1. YKK(株）、2. (株）東レリサーチセンター)
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キーワード：
ゲート跡、分子配向、サイドゲート、ラマン分光法
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